Apparecchiature di test automatiche

I moduli di alimentazione ad alta densità e ad alta efficienza di Vicor consentono ai progettisti di sistemi ATE di implementare architetture PDN (rete di distribuzione dell'energia elettrica) che consentono di aumentare la densità dei pin della testina di test con testine di dimensioni uguali o inferiori. I CI per data center, militari, automotive e industriali consumano quantità sempre maggiori di energia e hanno molti livelli di tensione diversi. L'approccio modulare di Vicor alle PDN consente ai produttori di ATE di scalare prontamente i livelli di alimentazione e supportare tensioni diverse per consentire uno sviluppo rapido e un tempo di immissione sul mercato veloce.

I produttori di semiconduttori avanzano sempre maggiori esigenze alle aziende di apparecchiature di test automatico (ATE) per progettare sistemi di test che soddisfino la domanda sempre crescente di CI in modo rapido e affidabile e con il minor costo aggiuntivo possibile. I produttori di circuiti integrati considerano il costo dei test (CoT) come un costo aggiuntivo che, sebbene richiesto e necessario, riduce solo i margini del prodotto, richiede uno spazio di fabbrica sempre maggiore e non migliora il tempo di ciclo e la resa. I produttori di sistemi ATE devono sviluppare sistemi di test che soddisfino le esigenze tecniche dei prodotti in CI e non contribuiscano alla perdita di rendimento e occupino uno spazio in fabbrica uguale o inferiore allo spazio occupato dalla generazione da sostituire.