Scan-Testgerät mit Transceivern und Registern IC 64-LQFP (10x10)
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SN74ABTH182646APM

DigiKey-Teilenr.
296-4133-ND
Hersteller
Texas Instruments
Hersteller-Teilenummer
SN74ABTH182646APM
Beschreibung
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
Standardlieferzeit des Herstellers
18 Wochen
Kundenreferenz
Detaillierte Beschreibung
Scan-Testgerät mit Transceivern und Registern IC 64-LQFP (10x10)
Datenblatt
 Datenblatt
EDA/CAD-Modelle
SN74ABTH182646APM Modelle
Produkteigenschaften
Typ
Beschreibung
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Kategorie
Hersteller
Texas Instruments
Serie
74ABTH
Verpackung
Tablett
Status der Komponente
Aktiv
Logik - Typ
Scan-Testgerät mit Transceivern und Registern
Versorgungsspannung
4,5V bis 5,5V
Anzahl der Bits
18
Betriebstemperatur
-40°C bis 85°C
Montagetyp
Oberflächenmontage
Gehäuse / Hülle
64-LQFP
Gehäusetyp vom Lieferanten
64-LQFP (10x10)
Basis-Produktnummer
74ABTH182646
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